ATR(衰減全反射技術(shù))是紅外光譜發(fā)展較快的一個(gè)技術(shù)，也是目前最廣泛采樣技術(shù)，可以進(jìn)行定性或定量測(cè)試，而基本不用樣品制備，這樣可以大大加快測(cè)試速 度、提高測(cè)試效率，從多次反射ATR到單次反射的ATR、從常溫測(cè)試到變溫測(cè)試（最高溫度可達(dá)300℃）、從常壓技術(shù)到高壓超臨界技術(shù)。
參數(shù)詳見
http://www.azup.com.cn/ProductsView.asp?id=56
ATR棱鏡/內(nèi)反射晶體