隨著XE-150的推出,對大尺寸樣品進(jìn)行無損檢測成為了一種切實可行的技術(shù)手段。XE-150分辨率高,性能穩(wěn)定可靠。樣品臺可在150毫米見方或者200毫米見方的量程內(nèi)自動移動,無論是掃描小尺寸樣品還是大尺寸樣品,操作起來都是得心應(yīng)手。如使用Step-and-Scan功能可幫助用戶按照定制的計劃對多個目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行連續(xù)自動掃描,極大的提高了檢測效率。
技術(shù)參數(shù)(機(jī)械部分):
1. XY掃描器:100μm×100μm(閉環(huán)),可選配200μm×200 μm
2. Z掃描器:12μm (可選配25μm)
3. 水平度:50μm線掃描垂直偏差不超過2nm
4. XY和Z掃描器的正交性:1.0°
5. 樣品臺移動范圍:200mm×200mm(X/Y),27.5mm (Z)
6. 樣品尺寸:200mm×200mm
7. 光學(xué)觀察:垂直光路設(shè)計,可直接觀察微懸臂和樣品
技術(shù)參數(shù)(電子部分)
1. 微處理器:600MHz,4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模:16位,500kHz采樣頻率
3. 圖像采集:同步自動采集16幅圖像,分辨率高達(dá)4096×4096像素
4. 通訊方式:采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計算機(jī)聯(lián)接
5. 符合CE認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)工作模式:
. 真正非接觸模式(True non-contact mode)
. 接觸模式(contact mode)
. 相位模式(phase imaging)
. 橫向力模式(LFM)
擴(kuò)展工作模式:
. 力測量(Force measurements)
. 導(dǎo)電(Conductive AFM)
. 電力(Electric Force)
. 電子 (Electrical)
. 磁性 (Magnetical)
. 機(jī)械 (Mechanical)
. 熱 (Thermal)
供應(yīng)Park SystemsXE-150大樣品高端高精度原子力顯微鏡