X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測(cè)量

CMI 900  系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè)
A  CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um  (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶(hù)自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

樣品臺(tái)選擇：
CMI900系列采用開(kāi)槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶(hù)選用，分別為：
 一：手動(dòng)樣品臺(tái)
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

二：自動(dòng)樣品臺(tái)
1   程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
2   超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。

CMI900主要技術(shù)規(guī)格如下：
 
No.         主要規(guī)格 
1X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
  空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
  標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
  功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)     
                      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
                X射線管功率可編程控制
  裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng):根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)
  二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、                                 多種厚度的二次濾光片任選
  位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口
3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng):最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制
      多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
                           －圓形，如4、6、8、12、20mil等
                           －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使                          用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
  在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用                                                               0.3mm準(zhǔn)直器)
5X射線探測(cè)系統(tǒng) 封氣正比計(jì)數(shù)器
  裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
6樣品室
  －樣品室結(jié)構(gòu)         開(kāi)槽式樣品室 
 －最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 
 －XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
                                任選：50.8mm x 152.4mm                                       50.4mm x 177.8mm                                                            101.6 x 177.8mm     
                                      177.8 x 177.8mm     
                                      610mm x 610mm 
 －Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm 
 －XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)                                控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制