LAI-2000植物冠層分析儀采用了創(chuàng)新技術，利用一個“魚眼”光學傳感器（視野范圍148°）進行輻射測量來計算葉面積指數(shù)和其它冠層結構。冠層以上和冠層以下的測量用于決定5個角度范圍內(nèi)的光線透射，LAI是通過植被冠層的輻射轉(zhuǎn)移模型來計算的。

為什么測量葉面積指數(shù)
    冠層結構—葉片數(shù)量和分布對于光線投射、葉片溫度湍流、生產(chǎn)力、土壤水分蒸發(fā)蒸騰損失總量、降雨截留和土壤溫度來說十分重要。
    直接冠層測量對于小冠層來說十分煩瑣而且勞動強度很大，對于大的冠層來說則幾乎不可能。然而，輻射轉(zhuǎn)移模型表明相對簡單的光線透射測量可以提供冠層結構的精確估計。
  

重要特性
    1）無損傷地測量葉面積指數(shù)
    2）測量迅速、時間短
    3）可以現(xiàn)場評價葉面積指數(shù)
    4）不受天氣狀況影響
    5）使用范圍廣，測量范圍包括矮小的草地到森林等任何尺寸的冠層
    6）節(jié)省大量費用

計算指標
    1)葉面積指數(shù)（LAI）
    2)LAI的標準誤（SEL）
    3)冠層下可見天空比例(DIFN）
    4)平均傾斜角（MTA）
    5)MTA的標準誤（SEM）
    6)用于計算結果的上下觀測的次數(shù)（SMP）

詳細信息請參見http://www.ecotek.com.cn/products/ProductionShow.aspx?ProId=48