產(chǎn)品介紹    
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白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數(shù)而設計的微納米測量系統(tǒng),，為韓國SAMSUNG全球唯一指定供應商，LPL友好俱樂部成員，清華大學，臺灣大學，首爾大學友好合作伙伴。 

產(chǎn)品特點
1、非接觸式測量：避免物件受損。
2、三維表面測量：表面高度測量范圍為1nm-200μm。
3、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4、納米級分辨率：垂直分辨率可以達到0.1nm。
5、高速數(shù)字信號處理器：實現(xiàn)測量僅需要幾秒鐘。
6、掃描儀：采用閉環(huán)控制系統(tǒng)。
7、工作臺：氣動裝置、抗震、抗壓。
8、測量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面，強大而快速的運算。