CWS12K型《顆粒分析儀》是一套通過光電轉(zhuǎn)換技術(shù)及圖像處理技術(shù)對(duì)視野中顆粒（空隙）進(jìn)行精確測(cè)量和統(tǒng)計(jì)分析并能精確計(jì)算出特征物的各種參數(shù)以及特征物在特定面積中占用的幾何信息的專業(yè)化光機(jī)電軟系統(tǒng)。 
主要參數(shù)包括：
1) 視野中總顆粒個(gè)數(shù)以及每個(gè)顆粒的幾何形態(tài)如面積周長(zhǎng)等
2) 不同大小的顆粒在單位視野占的百分比
3) 顆粒檢測(cè)數(shù)據(jù)以excel格式保存演示
4) 可以行成直方圖等更為直觀的方式
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