產地:德國
具采用專利的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術,有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬(130nm-770nm) 等特性,在ICP-OES 領域開拓了全新的應用,可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。 主要特點
1.一維色散+32個CCD檢測器設計,檢測器無需超低溫冷卻,無需氬氣吹掃保護
2.全波長覆蓋,唯一為130-770nm的波長范圍,唯一可以分析ppm級鹵素
3.專利密閉充氬循環(huán)光路系統,檢測190nm以下譜線,無需氣體吹掃
4.3秒實現真正全譜數據采集,分析速度最快
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制,矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高 技術參數:
光學系統
焦距:0.75米
光譜范圍:130nm – 770nm
光柵:三光柵
- 3600線/毫米 (130nm – 175nm)
- 3600線/毫米 (175nm – 340nm)
- 1800線/毫米 (340nm – 770nm)
光譜級次:全波長一級光譜
32個線性CCD連續(xù) 排列在羅蘭圓上
每個CCD的像素數:3648
分辨率:8.5pm (恒定不變)
光室密閉充氬,無需吹掃(驅氣)和抽真空
光室恒溫: 15℃ ( 0.1 ℃)
- 開機即可使用
- 測量130nm – 190nm波段方便快捷
信號檢測與讀出系統
32個線性陣列CCD
工作溫度:15 ℃ ( 0.1 ℃),無須制冷,
無須吹掃保護性氣流
超高速數據讀取:雙CPU,平行數據讀出
極高的動態(tài)范圍:108
最短積分時間:0.1ms
可進行瞬時信號的測量:與LC、HPLC等聯機成為真正可能
決無“溢出”現象
長壽命
等 離 子 體
自激式固態(tài)發(fā)生器和電源
頻率:27.12MHz
功率:750 - 1700W
功率穩(wěn)定性:<0.1%
風冷
全自動控制,功率連續(xù)可調
耦合效率高
等離子體觀測方式
1、等離子體水平放置,軸向觀測
可有效提高儀器的靈敏度10倍,尤其對于激發(fā)電位較低的元素,如:Zn、K、Na
專利的OPI技術
冷錐冷卻方式:水冷,冷卻效率高
計算機全自動控制冷錐與等離子體
的相對位置
氬氣反吹,在保證遠紫外波段的光
效率前提下,冷錐和光路(包括透
鏡)無污染的可能
2、等離子體垂直放置,徑向觀測
等離子體垂直放置優(yōu)點:
不會燒炬管
減少基體干擾
減少進樣系統沖洗時間
實驗成本降低
分析速度快
ARCOS 型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀