徠卡偏光顯微鏡新產(chǎn)品DM4500P、DM2500P ：設(shè)計(jì)用于各種偏振光檢驗(yàn)：無論是用于巖相學(xué)、礦物學(xué)、結(jié)構(gòu)特性還是液晶檢驗(yàn)– 新型偏光顯微鏡都能滿足各種要求的理想選擇。配合各種各樣的選用設(shè)備，徠卡顯微系統(tǒng)有限公司的偏光顯微鏡同樣是工業(yè)應(yīng)用的理想伙伴。無論是用于分析玻璃、塑料、紡織品和纖維還是半導(dǎo)體行業(yè)的測試顯示，徠卡顯微鏡總是能保證最精確、可靠的結(jié)果。
靈活度最大的變型：
• Leica DM4500 P：用于研究與開發(fā)
• Leica DM2500 P：用于日常偏振應(yīng)用
精確的結(jié)果：
新型Leica 偏光顯微鏡將向您展現(xiàn)顯微鏡能有多簡單、多可靠。方便的操作原理使您能改進(jìn)工作流程，把注意力完全集中在手頭的工作上。
不言而喻的優(yōu)點(diǎn)：
• 偏振對比度提高，能獲得更多的標(biāo)本信息
• 操作簡單，能在透偏光及落射偏光下對標(biāo)本進(jìn)行精確的評估
• 符合人機(jī)工效性操作原理，工作更輕松
• 可集成相機(jī)和軟件模塊，以便更迅速、更輕松地反復(fù)制作文檔
