ATR法不僅用于驗(yàn)證分析,還廣泛用于異物分析。對(duì)ATR法掃描獲取的光譜和用透射法掃描獲取的光譜進(jìn)行比較可以發(fā)現(xiàn),因?yàn)樵聿煌?,縱軸及橫軸的數(shù)值有一定差別。所以,將ATR法的光譜與透射法的光譜或數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行比較時(shí),通過對(duì)ATR光譜進(jìn)行適當(dāng)?shù)男U?,可取得更高精度的結(jié)果。本文向您介紹通過高級(jí)ATR校正,對(duì)ATR光譜和透射光譜進(jìn)行近似處理的示例。經(jīng)高級(jí)ATR校正可使ATR光譜與透射光譜相似。并且,如果通過透射法數(shù)據(jù)庫(kù)檢索ATR譜圖,可獲取高精度的檢索結(jié)果。
島津高級(jí)ATR校正功能,可對(duì)上述縱軸和橫軸變化進(jìn)行校正。該校正可同時(shí)進(jìn)行以下3種校正:
1. 受波長(zhǎng)影響的紅外光穿透深度帶來(lái)的峰強(qiáng)度變化。
2. 由折射率的異常分散引起的低波數(shù)峰偏移。
3. 由偏光特性引起的來(lái)自朗伯-比爾定律的偏差。
在BCEIA2013上展出的島津IRTracer-100