英國馬爾文儀器有限公司是世界著名的材料表征領域先鋒,為深入研究探索顆粒表征方法,馬爾文儀器將于2014年5月26日在北京舉辦“顆粒表征技術及應用研討會”,內容匯集顆粒表征的各種技術和應用,案例分析,以及現場答疑解惑。
我們誠邀您的參與!屆時,來自中英兩國的馬爾文技術專家將與您分享有關納米顆粒跟蹤分析、粒度測量、噴霧測量、顆粒圖像分析等最前沿的技術原理與應用。
時間地點:
2014年5月26日 星期一 北京
(注:研討會詳細地址收到報名回執(zhí)后于會前一周另行郵件通知)
會議日程:
09:00-09:30 |
簽到 |
09:30-10:45 |
顆粒測量技術及其最新進展 |
10:45-11:00 |
茶歇 |
11:00-12:00 |
激光衍射法粒度測量的方法開發(fā)及結果的影響因素 |
12:00-13:00 |
工作午餐 |
13:00-14:00 |
噴霧粒度測量技術及其應用 |
14:00-14:15 |
茶歇 |
14:15-15:15 |
顆粒圖像分析技術及其應用 |
15:15-15:45 |
問題解答及現場儀器演示 |
報名方式:
請您完整填寫參會回執(zhí),發(fā)送郵件至:wendy.zhou@malvern.com.cn;收到您的參會回執(zhí)后,市場部工作人員將會于會前一周郵件通知您研討會舉辦的詳細地址。
如您有任何問題,請聯系:馬爾文公司市場部,周小姐,021-80137013
注:本次會議不收取任何參會費,并提供會議資料和工作午餐,交通住宿需自理。