近日，賽默飛在Pittcon現(xiàn)場(chǎng)展出拉曼光譜儀新品iXR，這是一款設(shè)計(jì)緊湊的多模式的拉曼光譜儀，可以使用多種技術(shù)對(duì)單一測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行同時(shí)分析。分析結(jié)果通過(guò)展示分子成分、表面和結(jié)構(gòu)性能之間的關(guān)系，加深對(duì)材料的認(rèn)識(shí)。
新品
據(jù)悉，該產(chǎn)品使用光學(xué)接口同時(shí)提供化學(xué)指紋和材料結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù),同時(shí)利用補(bǔ)充儀器收集元素或物理信息，并立即進(jìn)行數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。這些信息的目的在于提高對(duì)材料整體性能的理解,提升研究成果的質(zhì)量。
此外,采用賽默飛的OMNIC系列軟件，iXR拉曼光譜儀可以捕獲隨著時(shí)間推移而產(chǎn)生的光譜變化，可以實(shí)現(xiàn)變化環(huán)境中的動(dòng)態(tài)進(jìn)程測(cè)量,比如聚合物的流變結(jié)晶。
“從事材料研究和表征的科研工作者需要深入、快速了解新材料的性能,” 賽默飛分子光譜副總裁和總經(jīng)理Phillip van de Werken說(shuō)。“iXR拉曼光譜儀以及我們?cè)谶B用技術(shù)方面的實(shí)力，可以加深客戶對(duì)材料物理化學(xué)性質(zhì)的了解。”
現(xiàn)在科學(xué)家可以結(jié)合緊湊型拉曼和實(shí)驗(yàn)室的X射線電子能譜(XPS)、x射線衍射和流變儀等其他分析技術(shù)來(lái)進(jìn)行材料研究和分析。結(jié)合化學(xué)和形態(tài)信息，以及元素和物理性質(zhì)，可以更深入洞察化學(xué)和性能之間的關(guān)系。
展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)
