美國(guó)TSI公司將于2017 年11 月21－24 日參加在河北省石家莊市舉辦的第十三屆全國(guó)氣溶膠會(huì)議。本次會(huì)議由中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)氣溶膠專業(yè)委員會(huì)主辦，河北工程大學(xué)承辦，中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)、中國(guó)科學(xué)院地球環(huán)境研究所、中國(guó)科學(xué)院大氣物理研究所、國(guó)際空氣與廢棄物管理學(xué)會(huì)中國(guó)學(xué)會(huì)、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)協(xié)辦。旨在交流我國(guó)氣溶膠領(lǐng)域的最新研究成果，搭建氣溶膠領(lǐng)域產(chǎn)學(xué)研學(xué)術(shù)交流平臺(tái)，提升我國(guó)氣溶膠研究水平。美國(guó)工程院院士/明尼蘇達(dá)大學(xué)David Y. H. Pui 教授和中國(guó)科學(xué)院地球環(huán)境研究所曹軍驥研究員擔(dān)任本次會(huì)議共同主席，本次會(huì)議規(guī)模約 400 人。 

美國(guó)TSI公司于會(huì)上針對(duì)大氣顆粒物的測(cè)量，展示以下多種氣溶膠檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備。

 

TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測(cè)量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

 

3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測(cè)。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測(cè) 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過(guò)向同一粒子提供成對(duì)數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

 

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡(jiǎn)單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測(cè)量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測(cè)部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測(cè)分析和源解析的最佳儀器。

 

敬請(qǐng)大家屆時(shí)光臨美國(guó)TSI公司位于四美五洲國(guó)際酒店四樓的A12展位！