美國TSI公司將于2017 年11 月21－24 日參加在河北省石家莊市舉辦的第十三屆全國氣溶膠會議。本次會議由中國顆粒學(xué)會氣溶膠專業(yè)委員會主辦，河北工程大學(xué)承辦，中國顆粒學(xué)會、中國科學(xué)院地球環(huán)境研究所、中國科學(xué)院大氣物理研究所、國際空氣與廢棄物管理學(xué)會中國學(xué)會、北京粉體技術(shù)協(xié)會協(xié)辦。旨在交流我國氣溶膠領(lǐng)域的最新研究成果，搭建氣溶膠領(lǐng)域產(chǎn)學(xué)研學(xué)術(shù)交流平臺，提升我國氣溶膠研究水平。美國工程院院士/明尼蘇達(dá)大學(xué)David Y. H. Pui 教授和中國科學(xué)院地球環(huán)境研究所曹軍驥研究員擔(dān)任本次會議共同主席，本次會議規(guī)模約 400 人。

美國TSI公司于會上針對大氣顆粒物的測量，展示了以下多種氣溶膠檢測技術(shù)和設(shè)備。

TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時空氣動力學(xué)檢測。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

敬請大家屆時光臨美國TSI公司位于四美五洲國際酒店四樓的A12展位！  

更多信息，請關(guān)注美國TSI公司官方網(wǎng)站： www.tsi.com/cn