詳細(xì)說明
756系列紫外可見分光光度計(jì)是我公司生產(chǎn)的自動波長/自動掃描型紫外可見分光光度計(jì)系列產(chǎn)品。756系列紫外可見分光光度計(jì),以全新的設(shè)計(jì)理念,博采眾家之長。充滿現(xiàn)代化氣息的外形設(shè)計(jì),卓越的數(shù)據(jù)處理和控制功能為該儀器鮮明的特色。廣泛應(yīng)用于礦、衛(wèi)生、學(xué)校、環(huán)保及科研實(shí)驗(yàn)室等。我們的目標(biāo)是為廣大用戶提供高品質(zhì)的分析儀器。
產(chǎn)品特點(diǎn):
精心設(shè)計(jì)的單色器和1200條/mm高質(zhì)量全息光柵,具有雜光低,單色性好的特點(diǎn)。
更窄的光譜帶寬可以更精確的測量,更適用于醫(yī)藥領(lǐng)域。
四種測量模式,四種測量模式,T、A、C、斜率法,使操作更加簡便。
LCD液晶顯示讀數(shù)方便,大樣品室可使功能擴(kuò)展
756,自動波長定位使得測量更加準(zhǔn)確快捷。
756PC,配合掃描軟件,能實(shí)現(xiàn)光譜掃描、光度掃描、時(shí)間掃描、定量掃描等功能及各種復(fù)雜的數(shù)據(jù)處理。
光學(xué)性能:
光譜帶寬:2nm
波長范圍:195-1100nm(可擴(kuò)展190-1100nm)
波長精度:±0.3nm
波長重復(fù)性:0.3nm
雜散光:≤0.3%T
光譜掃描:
全程(195nm-1100nm)自動掃描,掃描光譜波長任意設(shè)定
掃描波長間隔0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm可選
T、A、E模式
重復(fù)掃描次數(shù)、坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定
光譜曲線峰、坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定
曲線平滑、微分、積分和算術(shù)計(jì)算等數(shù)據(jù)處理
完善的數(shù)據(jù)保存、導(dǎo)出和打印機(jī)制
光度性能:
光度方式:透過率、吸光率、濃度
光度范圍:0-200%T,-0.301-1.999A/0-3A,1-1999C-9999C
光度精度:≤0.3%T
光度重復(fù)性:0.3%T
穩(wěn)定性:±0.002/小時(shí)(500nm處、預(yù)熱1小時(shí),限756PC)
基線平直度:±0.002A
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