美國(guó)派克DA400S磁軛探傷儀可與EA-140紫外線燈配套使用，效果更佳。

美國(guó)PARKER公司磁粉探傷儀DA-400采用了許多先進(jìn)技術(shù)來(lái)形成感應(yīng)磁場(chǎng)，具有極高通用性，固定的AC或DC磁場(chǎng)，用于表面和近表面缺陷的檢測(cè)，是控制器與固態(tài)電子器件為一體的高性能的輕便儀。可疳高能磁場(chǎng)集中施加到檢測(cè)區(qū)，快速準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)材料缺陷。磁極可將AC或DC磁場(chǎng)施加到各種形狀工件的檢測(cè)區(qū)域，沒(méi)有電弧燒傷。
 
型號(hào) DA400 DA400S 
電源 110VAC  50-60Hz 230VAC  50-60Hz 
電流 4A 3A 

 
磁場(chǎng) 交流 交直流 
工作周期 2分鐘開----2分鐘關(guān) 
重量 3.68Kg 
尺寸 188*235*54mm 
磁極間距 0-305mm 
電纜 3芯2m長(zhǎng)電纜 

The DA-400 Contour Probe is a portable, self-contained instrument designed to produce a magnetic field on or within ferro-magnetic materials. 
The selective AC and pulsed DC functions are built into a single reliable instrument. The AC mode produces an intense AC field for detection of surface defects and demagnetizing after inspection. The DC mode produces an intense pulsed DC field for detection of some subsurface defects.

Controls and solid-state electronics are contained within the high impact molded housing. Articulating legs allow the AC or DC field to be applied to the precise area of inspection on nearly any part of the surface shape... in the lab, factory or field site.