ICP光譜儀 
SPECTRO ARCOS 全譜直讀ICP光譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SPECTRO ARCOS全譜直讀ICP光譜儀(等離子體發(fā)射光譜儀)可廣泛適用于科研、冶金、機(jī)械、石化、環(huán)保、食品、地質(zhì)、生化等愈來愈復(fù)雜的元素分析需求!作為一種快速、簡(jiǎn)便和精確的分析工具與手段，ICP-OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀）被廣泛地應(yīng)用在各種元素分析的領(lǐng)域。然而，目前商品化的ICP-OES，由于其內(nèi)在結(jié)構(gòu)和性能的局限，無法滿足愈來愈復(fù)雜的元素分析需求。SPECTRO ARCOS以其獨(dú)具匠心的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)，可極好的滿足研發(fā)、工業(yè)、環(huán)保、石化、地質(zhì)、生化等領(lǐng)域的用戶需要，尤其適合復(fù)雜基體樣品的分析。 　　
從SPECTRO ARCOS獨(dú)特的外觀上即可得知它出類拔萃的性能：極富特色的光學(xué)系統(tǒng)在保證最佳分辨率的基礎(chǔ)上，可達(dá)到優(yōu)異的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度。 　　
SPECTRO ARCOS可以方便的安裝在任何實(shí)驗(yàn)室中，儀器的表面經(jīng)過特殊的防腐處理，而且在整個(gè)進(jìn)樣室內(nèi)部也覆蓋有耐強(qiáng)腐蝕液體的保護(hù)膜。所有的部件和水電氣接頭都分別獨(dú)立放置，無須使用者拆裝儀器，維護(hù)和保養(yǎng)更加方便?！　?nbsp;    
僅從儀器的外觀即可看出：SPECTRO ARCOS 不同于傳統(tǒng)的ICP光譜儀。儀器左側(cè)突出的部分是獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng),它采用了專利的創(chuàng)新技術(shù)，具有無與倫比的分辨率、準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。        
另外，SPECTRO ARCOS 采用堅(jiān)固耐用的帶陶瓷功率管的新型自適式發(fā)生器和固態(tài)電源，維護(hù)方便省氣的UV-Plus 系統(tǒng)，高光通量的真空紫外光室波長(zhǎng)達(dá)130nm,數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)8個(gè)數(shù)量級(jí)，瞬間測(cè)量頻率達(dá)10Hz。專利的ICAL邏輯校正系統(tǒng)可自動(dòng)監(jiān)控操作，確保儀器處于平穩(wěn)最佳的運(yùn)行條件。       
“Smart Analyzer Vision”圖文式用戶操作界面結(jié)構(gòu)清晰，操作靈活簡(jiǎn)便。無論是符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量還是準(zhǔn)確定量重處理儲(chǔ)存的譜線或創(chuàng)建分析方法，操作者均能體驗(yàn)到儀器簡(jiǎn)便直觀的功能。      
 SPECTROARCOS提供兩種觀測(cè)模式：軸向（水平）觀測(cè)和徑向（垂直）觀測(cè)，新的帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)在130nm到340nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)均可保持恒定的分辨率。  
光學(xué)系統(tǒng) 　　
優(yōu)化的帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)，再加上由鋁合金所鑄造的基座，為ICP技術(shù)創(chuàng)造了一個(gè)里程碑，它擁有史無前例的性能，在130nm到340nm光譜范圍里像素分辨率是3pm,340nm或以上的光譜范圍里像素是6pm。這種固定的分辨率值只能在帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)，它的優(yōu)勢(shì)在于能夠以高分辨率的模式分析復(fù)雜基體（富譜線光譜），從而改善測(cè)量的精度。 　　
值得一提的是，帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)能在130nm到770nm光譜范圍里，進(jìn)行一級(jí)光譜的全圖譜數(shù)據(jù)采集，就算是在遠(yuǎn)紫外區(qū)也能得到良好的靈敏度，這對(duì)于鹵素測(cè)試，痕量元素分析，或是一些在遠(yuǎn)紫外區(qū)譜線靈敏度比較好的元素，都幫助很大。對(duì)于復(fù)雜基體的分析，通過選擇在遠(yuǎn)紫外區(qū)不受干擾的譜線進(jìn)行分析，可簡(jiǎn)化方法建立的流程和提高分析的精確度。 遠(yuǎn)紫外區(qū)光學(xué)系統(tǒng) 　　
光室采用氬氣循環(huán)的方式，并裝備有有凈化裝置的隔膜泵，保證了遠(yuǎn)紫外區(qū)域分析的靈敏度和儀器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，避免了使用吹掃-光室氣氛不穩(wěn)定，或真空裝置-光學(xué)元件易被污染的問題。 在遠(yuǎn)紫外區(qū)光學(xué)系統(tǒng)（UV-PLUS）里，不使用吹掃或真空裝置，因此無須更換或清潔任何光學(xué)器件，所以遠(yuǎn)紫外區(qū)光學(xué)系統(tǒng)不需任何維護(hù)。 　　
除了能在130nm到180nm這個(gè)遠(yuǎn)紫外區(qū)光譜范圍里高靈敏度分析，它還可大幅度降低運(yùn)行成本，在整個(gè)儀器使用周期里，與吹掃裝置的ICP相比，遠(yuǎn)紫外區(qū)光學(xué)系統(tǒng)（UV-PLUS）可節(jié)省相當(dāng)于三分之一的儀器采購(gòu)成本。 
SPECTRO ARCOS的優(yōu)越之處包括全新的、長(zhǎng)壽命、免維護(hù)的陶瓷管固態(tài)發(fā)生器，波長(zhǎng)范圍可達(dá)到130nm的遠(yuǎn)紫外區(qū)光學(xué)系統(tǒng)，動(dòng)態(tài)范圍可達(dá)到8個(gè)量級(jí)的數(shù)據(jù)處理器，以及高達(dá)10Hz的測(cè)量頻率。 　　
專利的智能邏輯校正系統(tǒng)ICAL持續(xù)監(jiān)控SPECTRO ARCOS的工作狀況，確保儀器在最佳的狀態(tài)下運(yùn)行。 　　
圖形化操作界面的SMART ANALYZER VISION操作軟件，具有高度靈活的、清晰的架構(gòu)，操作簡(jiǎn)單，無論是按照規(guī)范去定義測(cè)試流程，數(shù)據(jù)重處理還是自行建立方法，直觀的操作界面一定讓使用者得心應(yīng)手，該軟件可讓SPECTRO ARCOS完全滿足國(guó)家或行業(yè)的法規(guī)和需求。 本軟件的其他功能包括，自動(dòng)存儲(chǔ)分析方法，瞬間測(cè)量和自動(dòng)優(yōu)化。  
檢測(cè)器與數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng) 　　
SPECTRO ARCOS使用32個(gè)線性檢測(cè)器在130nm到770nm光譜范圍進(jìn)行一級(jí)光譜的全譜數(shù)據(jù)采集，與其他采用CCD檢測(cè)器的ICP相比，SPECTRO ARCOS的檢測(cè)器在實(shí)現(xiàn)極低的暗電流噪聲基礎(chǔ)上，將工作溫度設(shè)定為15℃，這樣既保證了儀器的靈敏度，又無須使用大流量、高純度的保護(hù)性氣流吹掃檢測(cè)器表面，大大降低了日常運(yùn)行費(fèi)用，而且還可避免因環(huán)境溫度波動(dòng)帶來的干擾。 每一個(gè)CCD均有獨(dú)立的數(shù)字信號(hào)處理器。雙CPU、32通道的高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)對(duì)信號(hào)進(jìn)行再處理。所有32個(gè)CCD，可在2秒內(nèi)完成全譜信號(hào)的采集和運(yùn)算；每一個(gè)像素的積分時(shí)間可根據(jù)信號(hào)強(qiáng)度而自動(dòng)調(diào)整，數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)能以10Hz的頻率處理瞬間信號(hào)，可與LC.HPLC等聯(lián)機(jī)使用。 　　　
快速的數(shù)據(jù)讀出和高達(dá)8個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍，能有效消除溢出效應(yīng)，并可在無須稀釋樣品的情況下直接進(jìn)行痕量元素分析。 
激發(fā)光源 　　
激發(fā)光源采用風(fēng)冷式陶瓷振蕩管和高精度固態(tài)電源，頻率為27.12MHz，輸出功率為0.7至1.7KW，保證了SPECTRO ARCOS 的等離子體有異乎尋常的穩(wěn)定性。 　　
免維護(hù)的激發(fā)光源無需任何電子或移動(dòng)元件協(xié)助運(yùn)行，可獨(dú)立調(diào)整共振頻率以適應(yīng)各種樣品，在測(cè)量各種變化很大的基體時(shí)，等離子體也可保持穩(wěn)定。 　　
相對(duì)于40.68MHz，27.12MHz擁有更大的頻寬以適應(yīng)各種基體復(fù)雜的樣品。 　　
在進(jìn)行大負(fù)荷（如：有機(jī)樣品等）樣品分析時(shí)，一般需要消耗很大的功率，但是SPECTRO ARCOS的高頻陶瓷振蕩管以及完全由計(jì)算機(jī)控制的高精度固態(tài)電源，可有效降低功率消耗，減少能量損失，提高耦合效率和延長(zhǎng)系統(tǒng)壽命。在等候情況下，操作者可選擇 待機(jī)模式”，以減少功率和氬氣的消耗。 
等離子體接口  　　
水平觀測(cè)模式最適合進(jìn)行痕量元素分析，專利的Optical Plasma Interface (OPI)接口，能有效提高靈敏度，可獲得比垂直觀測(cè)模式好十倍的檢出限。 　　\
統(tǒng)的ICP在水平觀測(cè)模式時(shí)會(huì)采用 尾焰切割”或 延長(zhǎng)炬管”來消除基體干擾的問題，而OPI則是直接穿透等離子體，把尾焰吹開，徹底消除基體干擾。如果沒有OPI，在同時(shí)處理各種變化很大的基體時(shí)，尤其是在環(huán)保方面的樣品，會(huì)使得等離子體處于不穩(wěn)定狀態(tài)，并造成不良影響，例如回收率變差。 　
　借助十多年的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，OPI在經(jīng)過進(jìn)一步的改進(jìn)后，簡(jiǎn)化了維護(hù)，并可確保精確定位。 　　
在進(jìn)行高精度和高準(zhǔn)確度分析時(shí)，垂直觀測(cè)模式SPI (Side-On Plasma Interface)是最佳的選擇，它的優(yōu)點(diǎn)是能夠在分析高鹽、有機(jī)、懸浮狀樣品時(shí)提供更好的精度和準(zhǔn)度。 　
全計(jì)算機(jī)控制的炬管定位系統(tǒng)，能自動(dòng)優(yōu)化OPI接口與等離子體的距離以及SPI接口的觀測(cè)高度，這些設(shè)定可以與其他參數(shù)一起隨方法保存，并可自動(dòng)隨方法調(diào)出使用。 進(jìn)樣系統(tǒng)  　
　樣品是通過一個(gè)位于儀器右邊的四通道蠕動(dòng)泵進(jìn)入儀器，這種設(shè)計(jì)能大幅縮短樣品流程和沖洗時(shí)間，從而極大地縮短了總分析時(shí)間。 　　
利用全計(jì)算機(jī)控制的沖洗程序和自動(dòng)進(jìn)樣器的協(xié)助，可進(jìn)一步優(yōu)化分析時(shí)間，對(duì)于一些工作量相對(duì)很大的分析，例如地質(zhì)、土壤和油品測(cè)試，SPECTRO ARCOS可輕易完成每天1000個(gè)樣品的測(cè)試。 　　
寬敞和隔熱的樣品進(jìn)樣室，可以配合不同種類的進(jìn)樣系統(tǒng)，智能化的定位裝置設(shè)計(jì)，使得霧化器和炬管的安裝輕而易舉，無須費(fèi)時(shí)費(fèi)力再校準(zhǔn)。 　　
冷卻氬氣、輔助氬氣、霧化器氬氣和附加氬氣完全由軟件控制，在方法中這些參數(shù)都能單獨(dú)更改和獨(dú)立儲(chǔ)存，在需要時(shí)，自動(dòng)優(yōu)化程序會(huì)調(diào)整各項(xiàng)參數(shù)，該功能可讓初學(xué)者更快掌握儀器的使用。 
軟件 　　
SPECTRO ARCOS采用的SMART ANALYZER VISION軟件，各項(xiàng)功能一目了然，操作直觀、簡(jiǎn)便，它滿足了現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室的需求，也可以和LIMS系統(tǒng)結(jié)合使用。其它軟件功能還包括數(shù)據(jù)重處理：也就是說更改已存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的參數(shù)或重選其它譜線，然后再進(jìn)行分析。